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高低温试验箱的测试流程

作者:環瑞 文章来源:环瑞 点击数:86 更新时间:2021-03-22 08:51:16

高低温试验箱的测试流程:
1、在样品断电的状态下,先将温度下降到-50℃,保持4个小时;高低温试验箱请勿在通电的状态下进行低温测试,非常重要,因为通电状态下,芯片本身就会产生20℃以上温度,所以,在通电状态下,通常比较容易通过低温测试,必须先将其“冻透”,再次通电进行测试。
 
2、开机,对样品进行性能测试,对比性能与常温相比是否正常。
 
3、进行老化测试,观察是否有数据对比错误。
 
4、升温到 90℃,保持4个小时,与低温测试相反,升温过程不断电,保持芯片内部的温度-直处于高温状态,4个小时后,执行2、3、4测试步骤。
 
5、高温和低温测试分别重复10次。
 
如果测试高低温试验箱的过程中出现任何一次不能正常工作的状态,则视为测试失败。
 

 


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